高性能模块化设计，根据用户的应用，配置不同的系统，适合各种光学测试（拉曼、荧光、PL、时间分辨光谱和荧光寿命）

TriVista CRS+ 系统概述

•    高性能模块化设计，根据用户的应用，配置不同的系统，各种光学测试（拉曼、荧光、PL、时间分辨光谱和荧光寿命）
•    超高分辨率（0.14cm-1），超低波数（<5cm-1），超强的杂散光抑制、高灵敏度
•    加模式，减模式同一光路，软件转换模式后，不需要校正光路
•    唯一内置三光栅的拉曼光谱仪，覆盖UV-IR全波段，软件转换光栅后，不需要校正光路
•    同时观察斯托克斯-反斯托克斯
•    高通光率光谱仪，焦长可选：500/500/500mm， 500/500/750mm， 750/750/750mm
•    光谱检测器可配置高量子效率（QE>95%）的CCD、EMCCD、 ICCD、InGaAs阵列，也可配置各种单点探测器
•    显微镜可配置OLYMPUS BX51正置或IX71倒置研究级显微镜，XYZ自动平台
•    可配置大样品箱，用户自有样品箱、真空样品箱、高低温样品台、磁场
•    多个狭缝入口，多个CCD和狭缝出口，可扩展性极强，可耦合拉曼光纤探头，扫描显微镜
•    稳态激光器，脉冲激光器，OPO激光器，UV-IR任意波长可扩展为TCSPC系统
•    系统设计合理，结构稳定，光路不受温度影响，不需专业人员维护

特点：

先进性

•    TriVista系列三级拉曼光谱系统在加模式下，分辨率可达到 0.14cm-1/pixel。 任何细微的光谱差别，都可精确的分辨
•    TriVista系列三级拉曼光谱系统，利用前两级高性能光谱仪滤除锐利线散射光，对激光器波长没有选择性，无需滤光片，低波数测量可到5cm-1以下
•   TriVista系列三级拉曼光谱仪应用PI特有锐利线削减技术，不需转动光栅即可在一个CCD窗口内，同时得到低波数的Stokes/AntiStokes拉曼光谱，避免光栅转动带来的位置误差。 受激光器的限制，很多用户对荧光的干扰无所适从，AntiStokes可以对您有所帮助
•    系统结合原子力，可以实现TERS针尖增强拉曼光谱测试，可以解决纳米尺度下的样品信号的检测
•    共振拉曼分析：结合可调谐波长的激光器，实现变激发波长共振拉曼分析，对于不同禁带宽度的材料，系统的侧通用性与适用性极强， 解决了单一波长激光器挑材料的问题，比如对碳纳米材料吸收区，会长随材料特性改变，单一波长激光器无法获得有用信息

高分辨率

•   对于半导体压力/应力、碳纳米管，同质异构的多形态现象、精细的键合效应等研究，必须使用高色散分光系统，得到高分辨率光谱，得到更加详细的样品信息，发现样品拉曼峰的细微差异
•    小型拉曼光谱仪受到光谱仪焦长和光栅的限制，光谱分辨率通常在0.5cm-1/pixel到1cm-1/pixel
•    TriVista系列三级拉曼光谱系统在加模式下，分辨率可达到0.14cm-1/pixel。 任何细微的光谱差别，都可精确的分辨

加模式、减模式同一光路

•    软件转换模式后，不需要校正光路
•   唯一内置三光栅的拉曼光谱仪，覆盖UV-IR全波段，软件转换光栅后，不需要校正光路

低波数

   小型拉曼光谱仪作为实验室通用仪器，使用Notch Filter或Edge Filter滤除瑞利线散射光，由于滤光片的技术限制，测量最低频率在100cm-1左右，适合于常规样品的测试

•   低波数拉曼光谱（0-100cm-1）是一个不可或缺的分析工具，在多个科研领域，例如单壁/多壁碳纳米管，晶体的晶格振动，聚合物、超晶
• 格半导体材料等，液体，混合物等，帮助确定这些样品的动态结构。 对于这类样品，只有使用三级拉曼光谱测试系统，用光谱仪的相减模式，滤除锐利线散射光
•    TriVista系列三级拉曼光谱系统，利用前两级高性能光谱仪滤除锐利线散射光，低波数测量可到5cm-1以下

                                       Sulfur的超低波数拉曼（>=5cm-1）

L-Crystine的正反斯托克斯散射，由于AntiStokes强度变化与温度相关，通过计算Stokes 与AntiStokes 的比，可以精确的得知样品

超高灵敏度

•    液氮制冷探测器，采用Pricenton Instruments探测器，超低噪音，可实现长达1h曝光时间
    不同面阵和像素尺寸的探测器
•    InGaAs阵列探测器
•    针对快速拉曼mapping可采用电子增益型探测器
•    最低纹波效应的背照式eXcelon探测器

                                                      不同探测器的QE曲线

系统可灵活扩展

• 显微镜头等三光栅配置，可覆盖UV-IR波段。 可做荧光、PL、时间分辨光谱，荧光寿命

- 深紫外至近红外波长范围（200至1600nm）

- 最多4个集成多线激光器和端口

- 大型外部激光器

- 紫外线和可见光/近红外双光束路径

- 从紫外到近红外的拉曼滤光片

- 适用于488、514、532，633、785和1064nm

•   大样品的宏观特性：可放置1x1cm比色皿，最大尺寸5x5x5cm的固体样品，粉末，粉末压片，薄膜等
•    宏光路耦合输入端：可耦合到高压样品池，高低温杜瓦，真空样品箱，电化学样品池等。 也可与光纤耦合或使用标准照相机镜头
• 可做吸收，透射，正反射，任意角度激发
•     异形样品箱
•    拉曼探头

系统性能参数

•    波长范围：深紫外到近红外波长范围
•    集成多达4个激光器，可选配外接大型激光器端口
•    紫外和可见光/近红外双光束路径
•    自动控制激光选择
•    自动对准，聚焦和校准功能
•    超高拉曼光谱分辨率，例如FWHM<0.1cm-1@633nm
•    三级减模式无需滤光片，低波数可测试到+/-5cm-1
•    高波数范围可达9000cm-1（@532nm），适用于光致发光
•    热电制冷和液氮制冷探测器
•    正置/倒置/双显微镜
•    步进电机和压电驱动XYZ位移台
•    快速拉曼mapping
•    集成控制加热/冷却台，液氦温度低温恒温器
•    可结合拉曼成像和原子力显微镜成像
•    自动控制的偏振光谱功能

应用领域 ：

•    适用研究在纳米尺度下，以氮化镓（GaN）、氧化锌（ZnO）为代表的第三代半导体材料
•    宽禁带II.-VI.族半导体发光、激光与光电探测材料、器件等研究
•    高压科学研究中，材料、器件，以及能量转换过程研究

TriVista CRS+ 系统结构原理

三级联光谱仪的参数性能

VISTACONTROL跨平台控制系统

减模式1级光栅与2级光栅反向旋转，重新合光，利用狭缝的精密控制以消除激光瑞利线加模式/减模式同一光路，软件切换无需校正光路。

•    大样品箱，可放置固体样品，粉末样品，薄膜样品，比色皿池，测吸收，透射，正反射，任意角度激发激光器自动选择，
•    光路的自动对准波长和强度自动校准功能
•    加热、冷却阶段和低温状态的温度控制
•    自动Z轴聚焦拉曼成像
•    快速拉曼/荧光/寿命 Mapping
•    荧光和背景抑制
•    光谱库匹配数据（物质成份分析）
•    与原子力显微镜（AFM）连用并控制
•    各种数据格式导出，各种后处理程序
•    拓展延伸光路，与外置低温台，SEM,连用

TriVista CRS+是多功能“光谱成像综合分析平台”，提供科研级定制化的解决方案