Model：OPQE-ST/LT/MT

一，测试系统功能

                                                                设备结构图，光电测试原理

光电材料与器件综合表征系统（OPQE）基于科研需求，设计用于测试半导体器件，功能材料（如钙钛矿），发光器件等综合性能表征系统。

•   可实现低温，真空，超连续光谱，瞬态等光电性能测试条件

•   可测试参数包括：输出特性，转移特性，暗电流，光电流（光伏材料），光响应速度，变光强测试，电容，光谱响应等。

二，配置参数

系统由光源，传输光路，探针样品台和光电测试三部分组成。根据用户需求，三大部分可以进行定制化开发，以实现不同光谱覆盖范围，不同测试环境和不同测试功能的实现。

 光源类型：UV增强氘灯/超连续白光激光/多路波长单色激光

探针台类型：低温/常温/高温，有背栅，光纤导入磁场，真空等

光信号耦合类型：低温真空台的光斑大小一般为mm或cm

                             光纤导入型，光斑尺寸由光纤芯径决定

                             常温测试下，微区光斑约为2μm，在电极引出 情况下最小可达  500nm光斑

                             测量操作装置：分为手动控制，半自动，全自动三中规格

三  实测数据

（1）用户实测数据

测试对象：高电子迁移率半导体（发表于Nanoscale，2019年）

测试手段：室温测试+真空探针台（液氮开循环）+B1500+500W氘灯+单色仪

测试内容：光电流随光功率的变化情况，光谱响应，响应速度

（2）用户实测数据

测试对象：有机半导体异质结构

   （发表于：Nano Letters,2019年）

测试手段：室温测试+真空探针台（液氦闭循环）+Keithley 4200+超连续白光激光器+声光晶体调制器

（3）用户实测数据

测试对象：二维无机半导体异质结构

（发表于：ACS  Nano  2020年）

测试手段：室温测试+真空探针台（液氦闭循环）+ Agilent B1500+500W氙灯+单色仪

测试内容：输出转移曲线，光响应度随光功率的变化情况，光响应速度，光谱响应