客户案例（中科院半导体所）                                            系统结构图

系统功能描述：

测试波长范围：1-5um，高通量光谱单色仪，光谱分辨率1nm 激发光532nm/ 785nm/ 1064nm,根据用户需求配置。 基于显微成像系统，可实时监测样品的激发区 对红外光谱全面优化，优秀的抑制杂散光设计处理，确保检出微弱信号。 采用低噪音LN制冷InGaAs探测器，可以满足1.2-2.4um波段探测。 采用低噪音LN制冷InSb探测器,可以满足2.0-5.5um波段探测。 可拓展红外荧光Mapping。 可拓展液氮，液氦低温测试，变温PL谱测试。

应用领域 

•   分子结构和化学键，表征和鉴别化学物种研究

•   化合物的定量分析，化学反应动力学、晶变、相变、材料拉伸与结构的瞬变关系

•   半导体红外材料生长（MBE），量子阱及半导体III-V材料测试

                InGaAs 液氮制冷型探测器(1-2.4um)                          III-V族材料红外荧光谱 @1064nm

        InSb液氮制冷型探测器（2-5.5um）                             Ge基材料IRPL@785nm